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SN74BCT8374ADW
- Modello di prodotti:
- SN74BCT8374ADW
- fabbricante:
- TI
- Descrizione:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- Stato senza piombo:
- Senza piombo / RoHS conforme
- Quantità di magazzino:
- 56104 Pieces
- Tempo di consegna:
- 1-2 days
- Tempi di consegna:
- 4-8 weeks
- Scheda dati:
- SN74BCT8374ADW.pdf
introduzione
Specifiche
| Condizione | New & Original, tested |
|---|---|
| Paese d'origine | Contact us |
| Codice di marcatura | Send by email |
| Tensione di alimentazione: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Contenitore dispositivo fornitore: | 24-SOIC |
| Serie: | 74BCT |
| imballaggio: | Tube |
| Contenitore / involucro: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Altri nomi: | 296-33849-5 SN74BCT8374ADW-ND SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4-ND SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4-ND |
| temperatura di esercizio: | 0°C ~ 70°C |
| Numero di bit: | 8 |
| Tipo montaggio: | Surface Mount |
| Moisture Sensitivity Level (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Produttore tempi di consegna standard: | 6 Weeks |
| Tipo Logic: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Stato senza piombo / Stato RoHS: | Lead free / RoHS Compliant |
| Descrizione dettagliata: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC |
| Numero di parte base: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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