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SN74BCT8374ADW
- 제품 모델:
- SN74BCT8374ADW
- 제조사:
- TI
- 기술:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- 무연 상태:
- 무연 / RoHS 준수
- 재고 수량:
- 56104 Pieces
- 배달 시간:
- 1-2 days
- 리드 타임:
- 4-8 weeks
- 데이터 시트:
- SN74BCT8374ADW.pdf
소개
규격
| 조건 | New & Original, tested |
|---|---|
| 원산지 | Contact us |
| 마킹 코드 | Send by email |
| 전원 전압: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 제조업체 장치 패키지: | 24-SOIC |
| 연속: | 74BCT |
| 포장: | Tube |
| 패키지 / 케이스: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| 다른 이름들: | 296-33849-5 SN74BCT8374ADW-ND SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4-ND SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4-ND |
| 작동 온도: | 0°C ~ 70°C |
| 비트 수: | 8 |
| 실장 형: | Surface Mount |
| 수분 민감도 (MSL): | 1 (Unlimited) |
| 제조업체 표준 리드 타임: | 6 Weeks |
| 논리 형: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 무연 여부 / RoHS 준수 여부: | Lead free / RoHS Compliant |
| 상세 설명: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC |
| 기본 부품 번호: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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