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SN74BCT8374ADW
- 部品型番:
- SN74BCT8374ADW
- メーカー:
- TI
- 説明:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- 鉛フリー:
- 鉛フリー/ RoHS準拠
- 在庫数量:
- 56104 Pieces
- 配達時間:
- 1-2 days
- 配達時間:
- 4-8 weeks
- データシート:
- SN74BCT8374ADW.pdf
簡潔な
規格
| 状況 | New & Original, tested |
|---|---|
| 原産国 | Contact us |
| タグコード | Send by email |
| 供給電圧: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| サプライヤデバイスパッケージ: | 24-SOIC |
| シリーズ: | 74BCT |
| パッケージング: | Tube |
| パッケージ/ケース: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| 他の名前: | 296-33849-5 SN74BCT8374ADW-ND SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4-ND SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4-ND |
| 運転温度: | 0°C ~ 70°C |
| ビット数: | 8 |
| 装着タイプ: | Surface Mount |
| 水分感受性レベル（MSL）: | 1 (Unlimited) |
| メーカーの標準リードタイム: | 6 Weeks |
| 論理タイプ: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| 鉛フリーステータス/ RoHSステータス: | Lead free / RoHS Compliant |
| 詳細な説明: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC |
| ベース部品番号: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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