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SN74BCT8374ADW
- Número de pieza:
- SN74BCT8374ADW
- Fabricante:
- TI
- Descripción:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
- Estado sin plomo:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad de stock:
- 56104 Pieces
- El tiempo de entrega:
- 1-2 days
- Tiempo de espera:
- 4-8 weeks
- Ficha de datos:
- SN74BCT8374ADW.pdf
Introducción
Especificaciones
| Condición | New & Original, tested |
|---|---|
| País de origen | Contact us |
| Código de marcado | Send by email |
| Tensión de alimentación: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Paquete del dispositivo: | 24-SOIC |
| Serie: | 74BCT |
| embalaje: | Tube |
| Paquete / Cubierta: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Otros nombres: | 296-33849-5 SN74BCT8374ADW-ND SN74BCT8374ADWE4 SN74BCT8374ADWE4-ND SN74BCT8374ADWG4 SN74BCT8374ADWG4-ND |
| Temperatura de funcionamiento: | 0°C ~ 70°C |
| Número de bits: | 8 |
| Tipo de montaje: | Surface Mount |
| Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Tiempo de entrega estándar del fabricante: | 6 Weeks |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Estado sin plomo / Estado RoHS: | Lead free / RoHS Compliant |
| Descripción detallada: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC |
| Número de pieza base: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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