SN74BCT8374ADW
Artikelnummer:
SN74BCT8374ADW
Hersteller:
TI
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Lead Free Status:
Bleifrei / RoHS-konform
Bestandsmenge:
56104 Pieces
Lieferzeit:
1-2 days
Vorlaufzeit:
4-8 weeks
Datenblatt:
SN74BCT8374ADW.pdf

Einführung

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Spezifikation

Bedingung New & Original, tested
Ursprungsland Contact us
Markierungscode Send by email
Versorgungsspannung:4.5 V ~ 5.5 V
Supplier Device-Gehäuse:24-SOIC
Serie:74BCT
Verpackung:Tube
Verpackung / Gehäuse:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Andere Namen:296-33849-5
SN74BCT8374ADW-ND
SN74BCT8374ADWE4
SN74BCT8374ADWE4-ND
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-ND
Betriebstemperatur:0°C ~ 70°C
Anzahl der Bits:8
Befestigungsart:Surface Mount
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL):1 (Unlimited)
Hersteller Standard Vorlaufzeit:6 Weeks
Logiktyp:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Bleifreier Status / RoHS-Status:Lead free / RoHS Compliant
detaillierte Beschreibung:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
Basisteilenummer:74BCT8374
Email:[email protected]

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