SN74BCT8374ANT
Modello di prodotti:
SN74BCT8374ANT
fabbricante:
TI
Descrizione:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Stato senza piombo:
Senza piombo / RoHS conforme
Quantità di magazzino:
51215 Pieces
Tempo di consegna:
1-2 days
Tempi di consegna:
4-8 weeks
Scheda dati:
SN74BCT8374ANT.pdf

introduzione

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Specifiche

Condizione New & Original, tested
Paese d'origine Contact us
Codice di marcatura Send by email
Tensione di alimentazione:4.5 V ~ 5.5 V
Contenitore dispositivo fornitore:24-PDIP
Serie:74BCT
imballaggio:Tube
Contenitore / involucro:24-DIP (0.300", 7.62mm)
temperatura di esercizio:0°C ~ 70°C
Numero di bit:8
Tipo montaggio:Through Hole
Moisture Sensitivity Level (MSL):1 (Unlimited)
Tipo Logic:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Stato senza piombo / Stato RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Descrizione dettagliata:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Numero di parte base:74BCT8374
Email:[email protected]

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