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SN74BCT8374ANT
- Modelo do Produto:
- SN74BCT8374ANT
- Fabricante:
- TI
- Descrição:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Status sem chumbo:
- Sem chumbo / acordo com RoHS
- Quantidade em estoque:
- 51215 Pieces
- Tempo de entrega:
- 1-2 days
- Tempo de espera:
- 4-8 weeks
- Ficha de dados:
- SN74BCT8374ANT.pdf
Introdução
Especificações
| Condição | New & Original, tested |
|---|---|
| País de origem | Contact us |
| Código de Marcação | Send by email |
| Tensão de alimentação: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Embalagem do dispositivo fornecedor: | 24-PDIP |
| Série: | 74BCT |
| Embalagem: | Tube |
| Caixa / Gabinete: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Temperatura de operação: | 0°C ~ 70°C |
| Número de bits: | 8 |
| Tipo de montagem: | Through Hole |
| Nível de sensibilidade à umidade (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Status sem chumbo / status de RoHS: | Lead free / RoHS Compliant |
| Descrição detalhada: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Número da peça base: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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