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SN74BCT8374ANT
- Modèle de produit:
- SN74BCT8374ANT
- Fabricant:
- TI
- La description:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Statut sans plomb:
- Sans plomb / conforme à la directive RoHS
- Quantité en stock:
- 51215 Pieces
- Heure de livraison:
- 1-2 days
- Délai de mise en œuvre:
- 4-8 weeks
- Fiche technique:
- SN74BCT8374ANT.pdf
introduction
Spécifications
| État | New & Original, tested |
|---|---|
| Pays d'origine | Contact us |
| Code de marquage | Send by email |
| tension d'alimentation: | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Package composant fournisseur: | 24-PDIP |
| Séries: | 74BCT |
| Emballage: | Tube |
| Package / Boîte: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Température de fonctionnement: | 0°C ~ 70°C |
| Nombre de bits: | 8 |
| Type de montage: | Through Hole |
| Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Type de logique: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Statut sans plomb / Statut RoHS: | Lead free / RoHS Compliant |
| Description détaillée: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Numéro de pièce de base: | 74BCT8374 |
| Email: | [email protected] |
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