Indonesia
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Hrvatska Ελλάδα✕
Tentang kami | Hubungi kami | Permintaan Penawaran |
Rumah > Produk > Sirkuit Terpadu (IC) > Embedded - FPGAs (Field Programmable Gate Array) > EP4CE22E22I7N
EP4CE22E22I7N
EP4CE22E22I7N
Nomor bagian:
EP4CE22E22I7N
Pabrikan:
Altera (Intel® Programmable Solutions Group)
Deskripsi:
IC FPGA 79 I/O 144EQFP
Status Bebas Timbal:
Memimpin bebas / RoHS Compliant
Jumlah stok:
48467 Pieces
Waktu pengiriman:
1-2 days
Lead time:
4-8 weeks
Lembaran data:
1.EP4CE22E22I7N.pdf2.EP4CE22E22I7N.pdf3.EP4CE22E22I7N.pdf4.EP4CE22E22I7N.pdf5.EP4CE22E22I7N.pdf
Penyelidikan

pengantar

EP4CE22E22I7N tersedia sekarang!LYNTEAM Technology adalah distributor stocking untuk EP4CE22E22I7N, kami memiliki stok untuk pengiriman segera dan juga tersedia untuk pasokan waktu yang lama.Silakan kirim paket pembelian Anda untuk EP4CE22E22I7N melalui email, kami akan memberikan harga terbaik sesuai rencana Anda.
Beli EP4CE22E22I7N dengan LYNTEAM, hemat uang dan waktu Anda.
Email kami: [email protected]

Spesifikasi

Kondisi New & Original, tested
Negara Asal Contact us
Kode Penandaan Send by email
Tegangan - Pasokan:1.15 V ~ 1.25 V
Jumlah RAM Bits:608256
Paket Perangkat pemasok:144-EQFP (20x20)
Seri:Cyclone® IV E
Paket / Case:144-LQFP Exposed Pad
Nama lain:544-3194
EP4CE22E22I7N-ND
Suhu Operasional:-40°C ~ 100°C (TJ)
Jumlah Logic Elemen / Sel:22320
Jumlah laboratorium / CLBs:1395
Jumlah I / O:79
mount Jenis:Surface Mount
Moisture Sensitivity Level (MSL):3 (168 Hours)
Manufacturer Standard Lead Time:20 Weeks
Status Gratis Memimpin / Status RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Nomor Bagian Dasar:EP4CE22
Email:[email protected]

Cepat Permintaan Penawaran

Nomor bagian
Kuantitas
Perusahaan
E-mail
Telepon
Komentar

bagian terkait untuk EP4CE22E22I7N

Gambar Nomor bagian Produsen Deskripsi Melihat
EP4CE22E22C9LN Image EP4CE22E22C9LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C6N Image EP4CE22F17C6N Intel® FPGAs IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22C7 Image EP4CE22E22C7 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22E22C7N Image EP4CE22E22C7N Intel® FPGAs IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C8LN Image EP4CE22F17C8LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22C8LN Image EP4CE22E22C8LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C8 Image EP4CE22F17C8 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22C9L Image EP4CE22E22C9L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C7 Image EP4CE22F17C7 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22I7 Image EP4CE22E22I7 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22E22I8LN Image EP4CE22E22I8LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C6 Image EP4CE22F17C6 Intel® FPGAs IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22C8 Image EP4CE22E22C8 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22E22C8L Image EP4CE22E22C8L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22E22I8L Image EP4CE22E22I8L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17C7N Image EP4CE22F17C7N Intel® FPGAs IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22F17C8L Image EP4CE22F17C8L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan
EP4CE22E22C8N Image EP4CE22E22C8N Intel® FPGAs IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22E22C6N Image EP4CE22E22C6N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 79 I/O 144EQFP Penyelidikan
EP4CE22F17A7N Image EP4CE22F17A7N Intel® FPGAs IC FPGA 153 I/O 256FBGA Penyelidikan

Latest Berita