STM32F207VCDEF er tilgængelig nu!LYNTEAM Teknologi er den strømforhandler for STM32F207VCDEF, vi har lagrene for øjeblikkelig forsendelse og også tilgængelig i lang tid.Venligst send os din købsplan for STM32F207VCDEF via e-mail, vi vil give dig en bedste pris efter din plan.
Køb STM32F207VCDEF med LYNTEAM, gem dine penge og tid.
Vores email: [email protected]
STM32F207VCDEF
- Varenummer:
- STM32F207VCDEF
- Fabrikant:
- STMicroelectronics
- Beskrivelse:
- LQFP 100 14X14X1.4
- Lager Antal:
- 55988 Pieces
- Leveringstid:
- 1-2 days
- Blytid:
- 4-8 weeks
- Datablad:
- STM32F207VCDEF.pdf
Introduktion
specifikationer
| Tilstand | New & Original, tested |
|---|---|
| Oprindelsesland | Contact us |
| Mærkningskode | Send by email |
| Serie: | * |
| Fabrikantens standard ledetid: | 18 Weeks |
| Detaljeret beskrivelse: | * Microcontroller IC |
| Email: | [email protected] |
Relaterede dele til STM32F207VCDEF
Laast News
- HBM -produktionskapacitet er udelukket, DRAM -hukommelse kan være mangelvare i andet halvår
- Wallstifter slutter, HBM eller får dram til at stige igen
- AI mobiltelefon og pc -udvidelse efterspørgsel, global halvlederfremstilling af industrien forbedring
- Forstå behovene hos ADAS og Cabin Monitoring Systems for Network Security Image Sensors
- Det ryktes, at Samsung og SK Hynix stoppede DDR3, og promoveringstilbudet steg med 20 %
- Melexis frigav MLX90427: linjekontrol til nyt valg, sikker, effektiv og økonomisk
- NXP og Ansonmeis økonomiske rapport annoncerede, og priserne på kobberpriserne overføres til IC -industrien
- Moels Micro Electronics har oprettet et nyt kontorer i Taiwan, Kina for at udvide forretningsområdet
- Udførelsen af Texas Instruments skal stadig øges, og de to lagerfabrikker skubber nye flashhukommelsesprodukter
- Den første kvartals økonomiske rapport fra SEF Semiconductor (ST) falder, og efterspørgslen efter biler er aftaget
- Udførelsen af Texas Instruments skal stadig øges, og de to lagerfabrikker skubber nye flashhukommelsesprodukter
- Lokal moden chipvolumen, samsung nand flash hukommelsesproduktionskapacitet nær belastning