العربية
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Hrvatska Ελλάδα✕
معلومات عنا | اتصل بنا | اطلب اقتباس |
الصفحة الرئيسية > منتجات > الدوائر المتكاملة (إكس) > الجزء المدمج من المحطة (مصفوفة البوابة الميدانية ا > 5SGXEBBR2H43C2L
5SGXEBBR2H43C2L
5SGXEBBR2H43C2L
رقم القطعة:
5SGXEBBR2H43C2L
الصانع:
Altera (Intel® Programmable Solutions Group)
وصف:
IC FPGA 600 I/O 1760HBGA
حالة خالية من الرصاص:
يحتوي الرصاص / بنفايات المتوافقة
كمية المخزون:
57837 Pieces
موعد التسليم:
1-2 days
المهلة:
4-8 weeks
ورقة البيانات:
1.5SGXEBBR2H43C2L.pdf2.5SGXEBBR2H43C2L.pdf3.5SGXEBBR2H43C2L.pdf4.5SGXEBBR2H43C2L.pdf5.5SGXEBBR2H43C2L.pdf
تحقيق

المقدمة

5SGXEBBR2H43C2L متاح الآن!تقنية LYNTEAM هي موزع التخزين ل 5SGXEBBR2H43C2L، لدينا مخزونات للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتزويد وقت طويل.الرجاء ارسال لنا خطة الشراء الخاصة بك ل 5SGXEBBR2H43C2L عبر البريد الإلكتروني، وسنقدم لك أفضل سعر وفقا لخطتك.
شراء 5SGXEBBR2H43C2L مع LYNTEAM، وفر أموالك والوقت.
بريدنا الإلكتروني: [email protected]

مواصفات

شرط New & Original, tested
بلد المنشأ Contact us
بمناسبة التعليمات البرمجية Send by email
الجهد - توريد:0.82 V ~ 0.88 V
إجمالي القطع من ذاكرة الوصول العشوائي:65561600
تجار الأجهزة حزمة:1760-HBGA (45x45)
سلسلة:Stratix® V GX
حزمة / كيس:1760-BBGA, FCBGA
درجة حرارة التشغيل:0°C ~ 85°C (TJ)
عدد من عناصر المنطق / خلايا:952000
عدد من مختبرات / CLBs:359200
عدد الإدخال / الإخراج:600
تصاعد نوع:Surface Mount
مستوى الحساسية للرطوبة (MSL):3 (168 Hours)
حالة خالية من الرصاص / حالة بنفايات:Contains lead / RoHS Compliant
رقم جزء القاعدة:5SGXEBB
Email:[email protected]

سريع طلب اقتباس

رقم القطعة
كمية
شركة
البريد الإلكتروني
هاتف
تعليقات

قطع الغيار ذات الصلة ل5SGXEBBR2H43C2L

صورة رقم القطعة مصنعين وصف رأي
5SGXEB9R3H43I4N Image 5SGXEB9R3H43I4N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEB9R3H43I3LN Image 5SGXEB9R3H43I3LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I3LN Image 5SGXEBBR2H43I3LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I2 Image 5SGXEBBR2H43I2 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I2L Image 5SGXEBBR2H43I2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43C2N Image 5SGXEBBR2H43C2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR1H43C2LN Image 5SGXEBBR1H43C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEB9R3H43I3L Image 5SGXEB9R3H43I3L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43C3N Image 5SGXEBBR2H43C3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR1H43C2L Image 5SGXEBBR1H43C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEB9R3H43I3N Image 5SGXEB9R3H43I3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43C2LN Image 5SGXEBBR2H43C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I3L Image 5SGXEBBR2H43I3L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I2LN Image 5SGXEBBR2H43I2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I3N Image 5SGXEBBR2H43I3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR1H43C2N Image 5SGXEBBR1H43C2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR2H43I2N Image 5SGXEBBR2H43I2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEBBR1H43I2N Image 5SGXEBBR1H43I2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEB9R3H43C3N Image 5SGXEB9R3H43C3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق
5SGXEB9R3H43C4N Image 5SGXEB9R3H43C4N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760HBGA تحقيق

Latest الأخبار