العربية
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Hrvatska Ελλάδα✕
معلومات عنا | اتصل بنا | اطلب اقتباس |
الصفحة الرئيسية > منتجات > الدوائر المتكاملة (إكس) > الجزء المدمج من المحطة (مصفوفة البوابة الميدانية ا > 5SGXEB6R1F43C2N
5SGXEB6R1F43C2N
5SGXEB6R1F43C2N
رقم القطعة:
5SGXEB6R1F43C2N
الصانع:
Altera (Intel® Programmable Solutions Group)
وصف:
IC FPGA 600 I/O 1760FBGA
حالة خالية من الرصاص:
الرصاص الحرة / بنفايات المتوافقة
كمية المخزون:
52611 Pieces
موعد التسليم:
1-2 days
المهلة:
4-8 weeks
ورقة البيانات:
1.5SGXEB6R1F43C2N.pdf2.5SGXEB6R1F43C2N.pdf3.5SGXEB6R1F43C2N.pdf4.5SGXEB6R1F43C2N.pdf5.5SGXEB6R1F43C2N.pdf
تحقيق

المقدمة

5SGXEB6R1F43C2N متاح الآن!تقنية LYNTEAM هي موزع التخزين ل 5SGXEB6R1F43C2N، لدينا مخزونات للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتزويد وقت طويل.الرجاء ارسال لنا خطة الشراء الخاصة بك ل 5SGXEB6R1F43C2N عبر البريد الإلكتروني، وسنقدم لك أفضل سعر وفقا لخطتك.
شراء 5SGXEB6R1F43C2N مع LYNTEAM، وفر أموالك والوقت.
بريدنا الإلكتروني: [email protected]

مواصفات

شرط New & Original, tested
بلد المنشأ Contact us
بمناسبة التعليمات البرمجية Send by email
الجهد - توريد:0.87 V ~ 0.93 V
إجمالي القطع من ذاكرة الوصول العشوائي:61688832
تجار الأجهزة حزمة:1760-FBGA, FC (42.5x42.5)
سلسلة:Stratix® V GX
حزمة / كيس:1760-BBGA, FCBGA
درجة حرارة التشغيل:0°C ~ 85°C (TJ)
عدد من عناصر المنطق / خلايا:597000
عدد من مختبرات / CLBs:225400
عدد الإدخال / الإخراج:600
تصاعد نوع:Surface Mount
مستوى الحساسية للرطوبة (MSL):3 (168 Hours)
حالة خالية من الرصاص / حالة بنفايات:Lead free / RoHS Compliant
رقم جزء القاعدة:5SGXEB6
Email:[email protected]

سريع طلب اقتباس

رقم القطعة
كمية
شركة
البريد الإلكتروني
هاتف
تعليقات

قطع الغيار ذات الصلة ل5SGXEB6R1F43C2N

صورة رقم القطعة مصنعين وصف رأي
5SGXEB6R1F43C2L Image 5SGXEB6R1F43C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F40C1N Image 5SGXEB6R1F40C1N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C3N Image 5SGXEB6R2F40C3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F43C2LN Image 5SGXEB6R1F43C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40I2LN Image 5SGXEB6R2F40I2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C2 Image 5SGXEB6R2F40C2 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C2LN Image 5SGXEB6R2F40C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C3 Image 5SGXEB6R2F40C3 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F43I2N Image 5SGXEB6R1F43I2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C2N Image 5SGXEB6R2F40C2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C2L Image 5SGXEB6R2F40C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB5R3F43I4N Image 5SGXEB5R3F43I4N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F40I2N Image 5SGXEB6R1F40I2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40I2L Image 5SGXEB6R2F40I2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F40C2LN Image 5SGXEB6R1F40C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F43C1N Image 5SGXEB6R1F43C1N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB5R3F43I3N Image 5SGXEB5R3F43I3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 600 I/O 1760FBGA تحقيق
5SGXEB6R2F40C1N Image 5SGXEB6R2F40C1N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F40C2L Image 5SGXEB6R1F40C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEB6R1F40C2N Image 5SGXEB6R1F40C2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق

Latest الأخبار