العربية
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Hrvatska Ελλάδα✕
معلومات عنا | اتصل بنا | اطلب اقتباس |
الصفحة الرئيسية > منتجات > الدوائر المتكاملة (إكس) > الجزء المدمج من المحطة (مصفوفة البوابة الميدانية ا > 5SGXEABN3F45C2N
5SGXEABN3F45C2N
5SGXEABN3F45C2N
رقم القطعة:
5SGXEABN3F45C2N
الصانع:
Altera (Intel® Programmable Solutions Group)
وصف:
IC FPGA 840 I/O 1932FBGA
حالة خالية من الرصاص:
الرصاص الحرة / بنفايات المتوافقة
كمية المخزون:
26988 Pieces
موعد التسليم:
1-2 days
المهلة:
4-8 weeks
ورقة البيانات:
1.5SGXEABN3F45C2N.pdf2.5SGXEABN3F45C2N.pdf3.5SGXEABN3F45C2N.pdf4.5SGXEABN3F45C2N.pdf5.5SGXEABN3F45C2N.pdf
تحقيق

المقدمة

5SGXEABN3F45C2N متاح الآن!تقنية LYNTEAM هي موزع التخزين ل 5SGXEABN3F45C2N، لدينا مخزونات للشحن الفوري وتتوفر أيضا لتزويد وقت طويل.الرجاء ارسال لنا خطة الشراء الخاصة بك ل 5SGXEABN3F45C2N عبر البريد الإلكتروني، وسنقدم لك أفضل سعر وفقا لخطتك.
شراء 5SGXEABN3F45C2N مع LYNTEAM، وفر أموالك والوقت.
بريدنا الإلكتروني: [email protected]

مواصفات

شرط New & Original, tested
بلد المنشأ Contact us
بمناسبة التعليمات البرمجية Send by email
الجهد - توريد:0.87 V ~ 0.93 V
إجمالي القطع من ذاكرة الوصول العشوائي:65561600
تجار الأجهزة حزمة:1932-FBGA, FC (45x45)
سلسلة:Stratix® V GX
حزمة / كيس:1932-BBGA, FCBGA
درجة حرارة التشغيل:0°C ~ 85°C (TJ)
عدد من عناصر المنطق / خلايا:952000
عدد من مختبرات / CLBs:359200
عدد الإدخال / الإخراج:840
تصاعد نوع:Surface Mount
مستوى الحساسية للرطوبة (MSL):3 (168 Hours)
حالة خالية من الرصاص / حالة بنفايات:Lead free / RoHS Compliant
رقم جزء القاعدة:5SGXEAB
Email:[email protected]

سريع طلب اقتباس

رقم القطعة
كمية
شركة
البريد الإلكتروني
هاتف
تعليقات

قطع الغيار ذات الصلة ل5SGXEABN3F45C2N

صورة رقم القطعة مصنعين وصف رأي
5SGXEABN2F45I2LN Image 5SGXEABN2F45I2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEB5R1F40C1N Image 5SGXEB5R1F40C1N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I2N Image 5SGXEABN2F45I2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I2L Image 5SGXEABN2F45I2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45C3N Image 5SGXEABN2F45C3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEB5R1F40C2N Image 5SGXEB5R1F40C2N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I3LN Image 5SGXEABN2F45I3LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45C2LN Image 5SGXEABN3F45C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I2 Image 5SGXEABN2F45I2 Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I3L Image 5SGXEABN2F45I3L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEB5R1F40C2LN Image 5SGXEB5R1F40C2LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45C4N Image 5SGXEABN3F45C4N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45I3N Image 5SGXEABN3F45I3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45C3N Image 5SGXEABN3F45C3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45I3LN Image 5SGXEABN3F45I3LN Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45I4N Image 5SGXEABN3F45I4N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN2F45I3N Image 5SGXEABN2F45I3N Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45C2L Image 5SGXEABN3F45C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق
5SGXEB5R1F40C2L Image 5SGXEB5R1F40C2L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 432 I/O 1517FBGA تحقيق
5SGXEABN3F45I3L Image 5SGXEABN3F45I3L Altera (Intel® Programmable Solutions Group) IC FPGA 840 I/O 1932FBGA تحقيق

Latest الأخبار